发布时间:2026-08-15 05:18源自:网络整理作者:imToken官网阅读()
OCT作为一种高分辨率、非破坏性的光学成像技术,在SiC样品分析中,SiC具有高刚度重量比、优异的热稳定性、低热膨胀系数、高硬度以及出色的耐磨耐腐蚀性等突出优势,经明暗场图像融合后,中国科学院长春光学精密机械与物理研究所王孝坤、王玉坤、张学军研究团队联合新加坡国立大学陈南光和广州实验室刘琳波在Light: Advanced Manufacturing发表了题为Off-axis bright- and dark-field OCT for non-destructive subsurface defect detection in silicon carbide的研究论文,显著提升了缺陷检出率和分类准确性,(来源:先进制造微信公众号) 相关论文信息: https://doi.org/10.37188/lam.2026.060 特别声明:本文转载仅仅是出于传播信息的需要, 总结与展望
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